1. Botón de polaridad de alimentación del colector, la polaridad se puede seleccionar según las instrucciones del panel.
2. Fusible de tensión de pico del colector: 1,5A.
3. % de voltaje máximo: el voltaje máximo se puede ajustar continuamente entre 0~10V, 0~50V, 0~100V y 0~500V. El valor nominal en el panel es un valor aproximado y es. solo como referencia.
4. Resistencia limitadora del consumo de energía: se conecta en serie en el circuito colector del tubo bajo prueba para limitar el exceso de consumo de energía. También se puede utilizar como resistencia de carga para el colector del semiconductor. tubo bajo prueba.
5. Rango de voltaje máximo: dividido en cuatro niveles: 0~10V/5A, 0~50V/1A, 0~100V/0.5A, 0~500V/0.1A. Al cambiar de marcha baja a marcha alta para observar las características del tubo semiconductor, primero se debe ajustar el voltaje máximo a cero y luego aumentar gradualmente el voltaje requerido después de cambiar de marcha; de lo contrario, es fácil dañar el transistor bajo prueba.
La configuración del bloque de CA está diseñada para proporcionar escaneo bidireccional para probar diodos u otros componentes, de modo que las curvas características directas e inversas del dispositivo se puedan mostrar al mismo tiempo.
6. Equilibrio de capacitancia: dado que hay varias capacitancias parásitas entre el extremo de salida de corriente del colector y tierra, se formará una corriente capacitiva, lo que provocará una caída de voltaje en la resistencia de muestreo de corriente, lo que provocará errores de medición. Para minimizar la corriente capacitiva, el equilibrio del capacitor debe ajustarse antes de realizar la prueba para minimizar la corriente capacitiva.
7. Equilibrio del capacitor auxiliar: Esto es para ajustar el equilibrio de capacitancia nuevamente para la asimetría del devanado secundario del transformador colector a la capacitancia de tierra.
8. Interruptor de encendido y ajuste de brillo: extraiga la perilla, encienda el instrumento y gire la perilla para cambiar el brillo del punto del tubo del osciloscopio.
9. Indicador de encendido: La luz se enciende cuando se enciende la alimentación.
10. Perilla de enfoque: ajuste la perilla para que el trazo de luz sea más claro.
11. Pantalla fluorescente: pantalla de osciloscopio con escala de coordenadas en el exterior.
12. Enfoque auxiliar: se utiliza junto con el mando de enfoque.
13. Interruptor de selección del eje Y (corriente/grado): un interruptor con 22 marchas y cuatro desviaciones. Se pueden realizar diferentes conversiones de corriente del colector, voltaje base, corriente base y conexiones externas.
14. Luz indicadora de aumento de corriente/grado × 0,1: cuando la luz está encendida, el instrumento entra en el estado de funcionamiento de corriente/grado × 0,1 veces.
15. Interruptor de desplazamiento vertical y aumento de corriente/grado: ajusta el desplazamiento del trazo en la dirección vertical. Retire la perilla, la ganancia del amplificador se expandirá 10 veces, el valor de escala IC de corriente/grado de cada marcha × 0,1 y la luz indicadora 14 se iluminará al mismo tiempo.
16. -Ganancia del eje: corrige la ganancia del eje Y.
17. Ganancia del eje X: Corrige la ganancia del eje X.
18. Interruptor de visualización: dividido en tres engranajes: conversión, conexión a tierra y calibración. Sus funciones son:
⑴Conversión: hace que la imagen se convierta entre los cuadrantes I y III, lo cual es conveniente. para gestión NPN Simplifique la operación de prueba al transferir al tubo PNP.
⑵ Tierra: La entrada del amplificador está conectada a tierra, indicando el punto de referencia donde la entrada es cero.
⑶ Calibración: presione el botón de calibración y el punto de luz se moverá exactamente 10 grados en las direcciones de los ejes X e Y para lograr el propósito de una corrección de 10 grados.
19. Desplazamiento del eje X: ajusta el desplazamiento del trazo de luz en dirección horizontal.
20. Interruptor de selección del eje X (voltaje/grado): Puede convertir las cuatro funciones de voltaje del colector, corriente de base, voltaje de base y conexión externa, con 17 niveles.
21. Ajuste "Nivel/cluster": El número de pasos de la señal de escalera se puede ajustar continuamente en el rango de 0 a 10.
22. Perilla de ajuste de cero: Antes de realizar la prueba, primero debe ajustar la posición del nivel cero inicial de la señal de escalera. Después de observar la señal de la escalera base en la pantalla fluorescente, presione el botón de selección de "voltaje cero" en el banco de pruebas y observe la posición del punto de luz en la pantalla fluorescente. Después de restablecer, ajuste la perilla de cero para que el nivel inicial. El punto luminoso de la señal de escalera permanece allí y se corrige con precisión el potencial cero de dicha señal de escalera.
23. Interruptor de selección de señal en escalera: Puede ajustar el tamaño de cada nivel de corriente a inyectar en la base del tubo bajo prueba, como fuente de señal base para probar varias curvas características, con 22 niveles. . Generalmente, se usa la corriente/nivel base y el voltaje/nivel de la fuente base cuando se prueban transistores de efecto de campo.
24. Interruptor de resistencia en serie: Cuando el interruptor de selección de señal de escalera se coloca en la posición de voltaje/nivel, la resistencia en serie se conectará en serie en el circuito de entrada del tubo bajo prueba.
25. Botón de repetición-apagado: aparece para repetir, la señal de escalera aparece repetidamente; presiónelo para apagarla, la señal de escalera está en un estado de activación.
26. Luz indicadora de señal de escalera en espera de ser activada: La luz se enciende cuando se presiona el botón repetidamente y la señal de escalera entra en el estado de activación.
27. Interruptor de llave de grupo único: La función de presionar un grupo único es hacer que el voltaje (corriente)/nivel preajustado regrese a la posición de disparo de espera después de que aparezca una señal de escalera, para que pueda ser Se utiliza para observar instantáneamente las características funcionales varias características extremas del tubo bajo prueba.
28. Botón Polaridad: La selección de polaridad depende de las características del tubo bajo prueba.
29. Banco de pruebas: Su estructura se muestra en la Figura A-24.
Figura A-24 Banco de pruebas de instrumento gráfico de características de tubo semiconductor
30 Botones de selección de prueba:
⑴ "Izquierda", "Derecha", "Dos". clusters": Puede seleccionar arbitrariamente las características de los dos tubos probados a la izquierda y a la derecha durante la prueba. Cuando se colocan en "Dos clusters", las curvas características del cluster izquierdo y derecho se muestran automáticamente alternativamente a través del interruptor electrónico. En este momento, "nivel/cluster" Debe colocarse en un lugar adecuado para facilitar la observación. Al comparar dos curvas características de grupo, no presione el botón de un solo grupo por error.
⑵ Tecla "Voltaje cero": Presione esta tecla para ajustar la posición del nivel inicial de la señal de escalera en nivel cero, ver ítem (22).
⑶ Tecla "Corriente cero": Cuando se presiona esta tecla, la base del tubo bajo prueba está en un estado de circuito abierto, lo que significa que se pueden medir las características ICEO.
31, 32. Tomas de prueba izquierda y derecha: Conecte las tomas especiales (accesorios aleatorios) para probar los transistores de potencia de las tomas de tubo tipo F1 y F2.
33, 34, 35. Toma de prueba de transistores.
36. Toma especial (extremo de tierra) para corriente de fuga inversa de diodo.
En el panel derecho del instrumento se encuentran las perillas y terminales que se muestran en la Figura A-25:
Figura A-25 Panel derecho del instrumento gráfico de características del tubo semiconductor XJ4810
p>37. Perilla de cambio de dos grupos: cuando se muestran los dos grupos, se puede cambiar la posición de la curva del grupo derecho, lo que facilita la comparación de varios parámetros de transistores emparejados.
38. Entrada de señal del eje Y: cuando el interruptor de selección del eje Y se coloca externamente, la señal del eje Y se ingresa desde este enchufe.
39. Entrada de señal del eje X: cuando el interruptor selector del eje X está configurado en externo, la señal del eje X se ingresa desde este enchufe.
40. Terminal de salida de señal de calibración: Desde estos dos orificios salen señales de calibración de 1V y 0,5V.
7.2 Precauciones antes de la prueba
Para garantizar el uso razonable del instrumento sin dañar el transistor bajo prueba o el circuito interno del instrumento, se deben tener en cuenta las siguientes cuestiones antes de usarlo el instrumento:
1. Debe haber una comprensión general y una estimación de los principales parámetros de CC del tubo bajo prueba, especialmente la disipación de potencia máxima permitida PCM, la corriente máxima permitida ICM y el voltaje de ruptura BVEBO de el colector del tubo bajo prueba, BVCBO.
2. Seleccione la polaridad de las señales de escaneo y escalera para adaptarse a las necesidades de los diferentes tipos de tubos y elementos de prueba.
3. Seleccione el rango de voltaje de escaneo apropiado según los parámetros medidos o el voltaje del colector permitido del tubo bajo prueba. En circunstancias normales, el voltaje máximo debe ajustarse primero a cero. Al cambiar el rango de voltaje de escaneo, el voltaje máximo también debe ajustarse a cero primero. Seleccione una determinada resistencia de consumo de energía. Al probar las características inversas, elija una resistencia de consumo de energía mayor y coloque los interruptores de desviación X e Y en los engranajes apropiados. Durante la prueba, el voltaje de escaneo debe ajustarse gradualmente desde cero hasta el valor requerido.
4. Haga las estimaciones necesarias para que el tubo bajo prueba seleccione una corriente de paso o un voltaje de paso apropiado. Generalmente, primero debe ser más pequeño y luego aumentar gradualmente según sea necesario. Durante la prueba no se debe exceder el consumo de energía máximo permitido del colector del tubo bajo prueba.
5. Al probar ICM, generalmente es recomendable utilizar un solo grupo para evitar dañar el tubo bajo prueba.
6. Al probar IC o ICM, la selección debe basarse en la situación real del voltaje del colector y no debe exceder la corriente máxima especificada por el instrumento, consulte la Tabla A-3.
Rango de voltaje/V 0~10 0~50 0~100 0~500
Corriente máxima permitida/A 5 1 0,5 0,1
Tabla A-3 Tabla de comparación de corriente máxima
7. Al realizar pruebas de alto voltaje, se debe prestar especial atención a la seguridad y el voltaje debe ajustarse gradualmente desde cero hasta el valor requerido. Una vez completada la observación, el voltaje máximo debe ajustarse a cero a tiempo.
7.3 Pasos operativos básicos
1. Presione el interruptor de encendido, la luz indicadora se encenderá y después de 15 minutos de precalentamiento, se podrá realizar la prueba.
2. Ajusta el brillo, el enfoque y el enfoque auxiliar para aclarar el punto de luz.
3. Ajuste la perilla de voltaje máximo a cero y coloque el rango de voltaje máximo, la polaridad, la resistencia de consumo de energía y otros interruptores en las posiciones requeridas para la prueba.
4. Calibre los amplificadores de los ejes X e Y 10 grados.
5. Ajustar el ajuste del paso cero.
6. Seleccione la señal de escalera base requerida, configure la polaridad y la resistencia en serie en la posición adecuada, ajuste la perilla de nivel/clúster para que la señal de escalera sea de 10 niveles/clúster y la señal de escalera esté configurada. a la posición de repetición.
7. Conecte el transistor bajo prueba, aumente lentamente el voltaje máximo y se mostrará una curva en la pantalla fluorescente.
7.4 Ejemplo de prueba
1. Medición de los valores hFE y β del transistor
Tome el transistor NPN tipo 3DK2, consulte el manual para conocer la prueba. condiciones de 3DK2 hFE Para VCE = 1 V, IC = 10 mA. Mueva el punto de luz a la esquina inferior izquierda de la pantalla fluorescente como punto cero de la mesa. Consulte la Tabla A-4 para conocer la ubicación de los componentes del instrumento.
Tabla A-4 Configuración de los componentes del instrumento durante las pruebas hFE y β del transistor 3DK2
Configuración de componentes Configuración de componentes
Rango de voltaje máximo 0~10 V Corriente del colector del eje Y 1 mA/grado
Polaridad del colector + repetición de señal en escalera
Resistencia al consumo de energía 250 Ω Polaridad en escalera +
Voltaje del colector del eje X 1 V/selección de paso de grado 20 μA
Aumente gradualmente el voltaje máximo y verá un grupo de curvas características en la pantalla, como se muestra en la Figura A-26. Lea el voltaje del colector del eje X Vce =1V La curva superior (cada curva. es 20μA, la curva inferior IB=0 no está incluida) Valor IB y valor IC del eje Y, podemos obtener
hFE = = = =42,5
Si el eje X El interruptor selector se coloca en la posición de corriente base o voltaje de fuente base, se puede obtener la curva característica de amplificación de corriente que se muestra en la Figura A-27. Es decir,
β=
Figura A-26 Curva característica de salida del transistor Figura A-27 Curva característica de amplificación de corriente
Método de medición de hFE y β de PNP transistor Igual que el anterior, simplemente cambie la polaridad del voltaje de escaneo, la polaridad de la señal de escalera y mueva el punto de luz a la esquina superior derecha de la pantalla fluorescente.
2. Prueba de corriente inversa del transistor
Tome el transistor 3DK2 tipo NPN como ejemplo. Del manual, aprendimos que las condiciones de prueba para 3DK2 ICBO e ICEO son VCB y. Los VCE son ambos de 10V. Durante las pruebas, consulte la Tabla A-5 para obtener detalles sobre la ubicación de los componentes del instrumento.
Aumente gradualmente el "voltaje máximo" para que el VCB del eje X = 10 V y lea el desplazamiento del eje Y, que es el valor medido. El método de cableado del tubo bajo prueba se muestra en la Figura 1-28, en la que la Figura A-28 (a) mide el valor ICBO, la Figura A-28 (b) mide el valor ICEO y la Figura A-28 (c) mide el valor IEBO.
Figura A-28 Prueba de corriente inversa del transistor
Tabla A-5 Configuración de los componentes del instrumento durante la prueba de corriente inversa del transistor 3DK2
Elementos
p>
Ubicación de los componentes
ICBO
ICEO
Rango de voltaje máximo 0~10V 0~10V
Polaridad + +
Tensión del colector del eje X 2 V/grado 2 V/grado
Corriente del colector del eje Y 10 μA/grado 10 μA/grado
Ampliación Desplazamiento del eje Y extraíble × 0,1 Extracción de desplazamiento del eje Y × 0,1
Resistencia limitadora del consumo de energía 5 KΩ 5 KΩ
La curva de prueba se muestra en la Figura A-29.
Lectura: ICBO=0.5μA (VCB=10V) ICEO=1μA (VCE=10V)
Figura A-29 Curva de prueba de corriente inversa
PNP El El método de prueba para transistores tipo NPN es el mismo que para los transistores tipo NPN.
De acuerdo con las condiciones de prueba, puede cambiar la posición del engranaje adecuadamente, cambiar la polaridad del voltaje de escaneo del colector a "-" y ajustar el punto de luz en la esquina inferior derecha de la pantalla fluorescente (cuando la polaridad del paso es "+" ) o la esquina superior derecha (cuando la polaridad del paso es "+") es "—").
3. Prueba de voltaje de ruptura del transistor
Tome el transistor 3DK2 tipo NPN. Consulte el manual y descubra que las condiciones de prueba de 3DK2 BVCBO, BVCEO y BVEBO IC son. 100μA, 200μA y 100μA. Durante las pruebas, consulte la Tabla A-6 para obtener detalles sobre la ubicación de los componentes del instrumento.
Aumente gradualmente el "voltaje máximo". El tubo bajo prueba se conecta como se muestra en la Figura A-30(a). Cuando el IC del eje Y = 0,1 mA, el desplazamiento del eje X es. el valor BVCEO; los tubos están conectados como se muestra en la Figura A-30 (b). Cuando el eje Y IC = 0,2 m A, el desplazamiento del eje X es el valor BVCEO. Figura A-30(c). El eje Y IC = 0,1 mA, el desplazamiento del eje X es el valor BVEBO.
Tabla A-6 Configuraciones de los componentes del instrumento durante la prueba de voltaje de ruptura del transistor 3DK2
Elementos de configuración
Componentes
BVCBO
BVCEO
BVEBO
Rango de voltaje máximo 0~100V 0~100V 0~10V
Polaridad+ + +
X- voltaje del colector del eje 10 V/grado 10 V/grado 1 V/grado
Corriente del colector del eje Y 20 μA/grado 20 μA/grado 20 μA/grado
Resistencia limitadora del consumo de energía 1 kΩ～5 kΩ 1 kΩ～5 kΩ 1 kΩ～5 kΩ
La curva de prueba se muestra en la Figura A-30.
Figura A-30 Curva de tensión de ruptura inversa (NPN)
Figura A-31 Curva de tensión de ruptura inversa (PNP)
Lectura: BVCBO =70V (IC =100μA)
BVCEO=60V (IC=200μA)
BVEBO=7.8V (IC=100μA)
Prueba del transistor PNP El método es similar a El método de prueba del transistor NPN. La curva de prueba se muestra en la Figura 1-31.
4. Prueba de diodos Zener
Tome el diodo Zener 2CW19 como ejemplo. Consulte el manual y aprenda que la condición de prueba para el voltaje estable de 2CW19 es IR=3mA. Al realizar la prueba. Consulte la Tabla A-7 para obtener detalles sobre la ubicación de los componentes del instrumento.
Aumente gradualmente el "voltaje pico" y podrá ver la curva característica del tubo bajo prueba en la pantalla fluorescente, como se muestra en la Figura A-32.
Tabla A-7 Configuración de los componentes del instrumento durante la prueba de diodo Zener 2CW19
Componentes de configuración de componentes
Configuración
Valor pico Rango de voltaje CA 0 ~ 10 V Voltaje del colector del eje X 5 V/grado
Resistencia limitadora del consumo de energía 5 kΩ Corriente del colector del eje Y 1 mA/grado
Lectura: caída de voltaje directo de aproximadamente 0,7 V, el estable El voltaje es de aproximadamente 12,5 V.
5. Prueba de corriente de fuga inversa del diodo rectificador
Tome el diodo rectificador 2DP5C como ejemplo. Consulte el manual y descubra que la corriente inversa de 2DP5 debe ser ≤500 nA. Durante las pruebas, consulte la Tabla A-8 para obtener detalles sobre la posición de cada componente del instrumento.
Aumente gradualmente el "voltaje máximo" y las características de la corriente de fuga inversa del tubo bajo prueba se podrán mostrar en la pantalla fluorescente, como se muestra en la Figura A-33.
Lectura: IR=4div×0.2μA×0.1 (aumento)=80 nA
Los resultados de la medición muestran que el rendimiento del tubo probado cumple con los requisitos.
Figura A-32 Curva característica del diodo Zener Figura A-33 Prueba de corriente inversa del diodo
Tabla A-8 Posición de los componentes del instrumento durante la prueba del diodo rectificador 2DP5C
Componente de configuración
Configurar
Rango de voltaje máximo 0~10 V Corriente del colector del eje Y 0,2 μA/grado
Resistencia limitadora del consumo de energía Aumento de 1 kΩ Eje Y extracción de desplazamiento Tomando el transistor como ejemplo, revisé el manual y descubrí que las condiciones de prueba para las características de salida del transistor 3DG6 son IC = 10 mA y VCE = 10 V. Durante las pruebas, consulte la Tabla A-9 para obtener detalles sobre la ubicación de los componentes del instrumento.
Inserte los dos transistores bajo prueba en los zócalos izquierdo y derecho del banco de pruebas respectivamente, luego configure cada tecla de función de acuerdo con la Tabla 1-8 y ajuste los parámetros a la posición ideal. Presione la tecla "dos grupos" del botón de selección de prueba y aumente gradualmente el voltaje máximo; luego, la curva característica de dos grupos se mostrará en la pantalla fluorescente, como se muestra en la Figura A-34.
Tabla A-9 Posición de los componentes del instrumento durante la prueba de curva característica de dos grupos
Posición de los componentes Posición de los componentes
Rango de voltaje máximo 0~10 V Colector del eje Y corriente 1 mA/grado
Polaridad + repetición del interruptor "Repetición - Apagado"
Resistencia limitadora de consumo de energía 250Ω Interruptor de selección de señal de escalera 10μA/nivel
Eje X voltaje del colector 1 V/polaridad de paso de grado+
Cuando los requisitos de los tubos de ensayo son muy altos, la "perilla de desplazamiento de dos grupos" (37) se puede ajustar para mover la curva del grupo derecho hacia la izquierda, dependiendo de la El grado de coincidencia de las curvas puede determinar la consistencia de sus características de producción.
Figura A-34 Curva característica de producción de dos conglomerados