De septiembre de 1994 a marzo de 1995, y de septiembre de 1996 a marzo de 1998, fue invitado por la Universidad Tecnológica de Kloster y la Fundación Humboldt en Alemania para dedicarse a la investigación científica en mecánica óptica.
Desde abril de 1998 hasta marzo de 1999, fue invitado por el Fondo Postdoctoral del Instituto Nacional de Ciencia y Tecnología de Japón para estudiar el comportamiento mecánico de materiales utilizando el método muaré del haz de electrones.
Desde abril de 1999 hasta junio de 2001, participó en una investigación sobre el método muaré de microscopía electrónica de barrido de alta resolución en la Universidad Tecnológica de Nanyang, Singapur. El principio de medir la nanodeformación mediante el método muaré de microscopía de fuerza atómica (método nanomoire) se propuso por primera vez y se aplicó al análisis de deformación residual del grafito irradiado con láser.
Desde julio de 20065438 hasta febrero de 2002, trabajó en el Advanced Thin Film Technology Center de la Universidad Estatal de Nueva York en Estados Unidos, utilizando el método del micro-moiré para estudiar el comportamiento mecánico de MEMS.
En marzo de 2002, volvió a trabajar en el Departamento de Ingeniería Mecánica de la Universidad de Tsinghua.