1. Un microscopio electrónico de barrido produce una imagen de la superficie de la muestra escaneando la superficie de la muestra con un haz de electrones enfocado.
2. Los electrones interactúan con los átomos de la muestra para generar diversas señales que contienen información sobre la morfología del mapeo de la superficie y la composición de la muestra. El haz de electrones normalmente se escanea en un patrón de escaneo rasterizado y la posición del haz se combina con la señal detectada para producir una imagen.
3. Los microscopios electrónicos de barrido pueden alcanzar resoluciones mejores que 1 nanómetro. Las muestras se pueden observar en alto vacío, bajo vacío, en condiciones húmedas (con microscopía electrónica de barrido ambiental) y en una amplia gama de temperaturas bajas o altas.
4. El modo más común de microscopía electrónica de barrido es detectar electrones secundarios emitidos por átomos excitados por un haz de electrones. La cantidad de electrones secundarios que se pueden detectar depende de la topografía de la muestra, entre otros factores.
5. Al escanear la muestra y utilizar un detector especial para recoger los electrones secundarios emitidos, se crea una imagen que muestra la topografía de la superficie. También es posible producir imágenes de alta resolución de la superficie de la muestra en tres dimensiones para identificar la estructura de la superficie de la muestra.