febrero 1995-septiembre de 1995, Asistente del Presidente de la Academia China de Topografía y Cartografía, Director Adjunto del Centro Nacional de Pruebas de Telémetros Optoelectrónicos;
Septiembre de 1995 - Septiembre de 1998, Estudiante de doctorado en geodesia en la Universidad Tecnológica de Graz ;
Septiembre de 1998 - septiembre de 2002, Instituto de Geodesia y Topografía de Ingeniería, Director de la Academia China de Topografía y Cartografía, Director del Centro Nacional de Pruebas de Telémetros Optoelectrónicos;
Septiembre de 2002-2011 Vicepresidente Presidente y miembro del Comité del Partido de la Academia China de Topografía y Cartografía;
Noviembre de 2011-2012 Enero Vicepresidente del Instituto Chino de Topografía y Cartografía, Director del Centro Nacional de Investigación de Tecnología de Ingeniería de Topografía y Cartografía;
2012 10 - febrero de 2016, Director del Centro Nacional de Pruebas e Inspección de Calidad de Productos de Topografía y Cartografía;
2065438 2006 Febrero de 2016: Presidente y Subsecretario del Comité del Partido de la Academia China de Topografía y Cartografía.